專案描述

PANASONIC貼片機D3 (NPM系列) NPM-D3

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PANASONIC貼片機D3 (NPM系列) NPM-D3

  • 在綜合實裝生產線實現高度單位面積生產率

          貼裝&檢查一連貫的系統,實現高效率和高品質生產

  • 客戶可以自由選擇實裝生產線

          通過隨插即用功能,能夠自由設置各工作頭的位置

  • 通過系統軟體實現生產線、生產車間、工廠的整體管理

          通過生產線運轉監控支援計畫生產

技術參術

機型
NPM-D3
後側工作頭

前側工作頭

輕量
16吸嘴貼裝頭
12吸嘴貼裝頭
8吸嘴貼裝頭
2吸嘴貼裝頭
點膠頭
無工作頭
輕量16吸嘴貼裝頭
NM-EJM6D
NM-EJM6D-MD
NM-EJM6D
12吸嘴貼裝頭
8吸嘴貼裝頭
2吸嘴貼裝頭
點膠頭
NM-EJM6D-MD
NM-EJM6D-D
檢查頭
NM-EJM6D-MA
NM-EJM6D-A
無工作頭
NM-EJM6D
NM-EJM6D-D
基板尺寸*1
(mm)
雙軌式 L 50 × W 50 ~ L 510 × W 300
單軌式 L 50 × W 50 ~ L 510 × W 590
基板替換時間
雙軌式 0s* *迴圈時間為3.6s以下時不能為0s。
單軌式 3.6 s* *選擇短型規格傳送帶時
電源 三相 AC 200, 220, 380, 400, 420, 480 V 2.7 kVA
空壓源*2 0.5 MPa, 100 L /min(A.N.R.)
設備尺寸(mm) *2 W 832 × D 2 652 *3 × H 1 444 *4
重量 1 680 kg(只限主體:因選購件的構成而異。)
貼裝頭 輕量16吸嘴貼裝頭(每貼裝頭) 12吸嘴貼裝頭
(每貼裝頭)
8吸嘴貼裝頭
(每貼裝頭)
2吸嘴貼裝頭
(每貼裝頭)
高生產模式「ON」 高生產模式「OFF」
最快速度 42 000 cph
(0.086 s/晶片)
38 000 cph
(0.095 s/晶片)
34 500 cph
(0.104 s/晶片)
21 500 cph
(0.167 s/晶片)
5 500 cph
(0.327 s/晶片)
4 250 cph
(0.847 s/QFP)
貼裝精度(Cpk≧1) ± 40 μm/晶片 ± 30 μm/晶片
(± 25 μm/晶片*5
± 30 μm/晶片 ± 30 μm/晶片
± 30 μm/QFP
 □12 mm 〜 □32 mm
± 50 μm/QFP
 □12 mm 以下

± 30 μm/QFP
元件尺寸(mm) 0402晶片*6 〜 L 6 × W 6 × T 3 03015*6*7/0402晶片*6 〜 L 6 × W 6 × T 3 0402晶片*6 〜 L 12 × W 12 × T 6.5 0402晶片*6 〜 L 32 × W 32 × T 12 0603晶片 〜 L 100 × W 90 × T 28
元件供給 編帶 編頻寬:4 / 8 / 12 / 16 / 24 / 32 / 44 / 56 mm 編頻寬:4〜56 / 72 / 88 / 104 mm
Max. 68 品種(4、 8 mm 編帶、小卷盤)
杆狀 Max. 16 品種(單式杆狀供料器)
托盤 Max. 20 品種(1台托盤供料器)
點膠頭
打點點膠
描繪點膠
點膠速度 0.16 s/dot
(條件: XY=10 mm 、Z=4 mm 以內移動、無θ旋轉)
4.25 s/元件
(條件: 30 mm × 30 mm角部點膠)*8
點膠位置精度
(Cpk≧1)
± 75 μ m /dot ± 100 μ m /元件
對象元件 1608晶片〜 SOP、PLCC、QFP、連接器、BGA、CSP SOP、PLCC、QFP、連接器、BGA、CSP
檢查頭
2D檢查頭(A)
2D檢查頭(B)
解析度 18 μm 9 μm
視野(mm) 44.4 × 37.2 21.1 × 17.6
檢查
處理時間
錫膏檢查*9 0.35 s/視野
元件檢查*9 0.5 s/視野
檢查物件 錫膏檢查*9 晶片元件: 100 μm × 150 μm以上(0603以上)
封裝元件: φ150 μm以上
晶片元件:80 μm × 120 μm以上(0402以上)
封裝元件: φ120 μm以上
元件檢查*9 方形晶片( 0603以上)、SOP、QFP( 0.4 mm間距以上)、CSP、BGA、鋁電解電容器、可調電阻、微調電容器、線圈、連接器*10 方形晶片( 0402以上)、SOP、QFP( 0.3 mm間距以上)、CSP、BGA、鋁電解電容器、可調電阻、微調電容器、線圈、連接器*10
檢查項目 錫膏檢查*9 滲錫、少錫、偏位、形狀異常、橋接
元件檢查*9 元件有無、偏位、正反面顛倒、極性不同、異物檢查*11
檢查位置精度(Cpk≧1)*12 ± 20 μm ± 10 μm
檢查點數 錫膏檢查*9 Max. 30 000 點/設備(元件點數: Max. 10 000 點/設備)
元件檢查*9 Max. 10 000 點/設備